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| 恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時(shí)間：2012/2/10 |
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2423.3 GB/T10586-2006 GB/T5170.5-2008等標(biāo)準(zhǔn)，也可根據(jù)客戶的要求非標(biāo)定做。
GB/T2423.3 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.3適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。
規(guī)定了試驗(yàn)和嚴(yán)酷等級(jí)、如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。適用于散熱和非散熱樣品。
適用于小型設(shè)備及元件，同時(shí)也適用于與試驗(yàn)箱外的測(cè)試裝置有復(fù)雜連接的大型設(shè)備，這種連接需要一定的裝配時(shí)間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006規(guī)定了溫?zé)嵩囼?yàn)箱的術(shù)語(yǔ)和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存。
適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行溫?zé)嵩囼?yàn)的試驗(yàn)箱。
GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-2008規(guī)定了溫?zé)嵩囼?yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
適用于對(duì)GB/T2423.3《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉》所用戶試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。 |
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相關(guān)資料 |
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