“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)是由以下8個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成，涉及到的設(shè)備分別有濕熱試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱、低溫濕熱箱、高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱、高溫/低氣壓試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高溫試驗(yàn)箱。
GBT 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10587-2006 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10588-2006 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10591-2006 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
該系列標(biāo)準(zhǔn)均適用于電子電工及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。
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